A szuperrezolúciós mikroszkópia egyik alkalmazása. A diffrakciós limitnél nagyobb felbontást biztosító, letapogató fluoreszcens mikroszkópiai eljárás.
STED mikroszkópia
(Stimulated Emission Depletion, STED-eljárás, stimulált emissziós-gyengítés)
A szuperrezolúciós mikroszkópia egyik alkalmazása.
A diffrakciós limitnél nagyobb felbontást biztosító, letapogató fluoreszcens mikroszkópiai eljárás.
A STED-eljárás elvi működése
A mint megvilágításánál két fényforrást (gerjesztő lézert és vörös eltolódott depléciós lézert /STED nyalábot/) használnak.
A STED nyaláb nulla pontjában pozícionálva-fluoreszcens marad, a többi helyzetben alapállapotba (nem fluoreszcens) kerül a stimulált emisszió miatt.
A fluoreszcencia emissziót PMT detektorral észlelik.
A komplett kép eléréséhez a STED lézerrel előállított középső nulla ponttal végigpásztázzák a mintát.
A felbontást a kísérleti konfiguráció és az alkalmazott lézer ereje határozza meg. A kép nem igényel további feldolgozást. Az extrém erős lézer viszont a minta gyors kifakításához és roncsolásához vezet.