pásztázó tűszondás mikroszkópok
(scanning probe microscopes, SPM)
Közös jellemzőjük, hogy mechanikus rendszerek, egy tűt (szondát) pásztáznak
a mintán, miközben a tű és a minta valamilyen kölcsönhatását képjelként mérik,
vagy a kölcsönhatást állandó értéken tartva a minta domborzatát tapogatják le.
Mélységélességük más módszerekhez képest nagy, a teljes pásztázott tartományra
kiterjed, és a teljes tartományban kiváló a mélységi felbontóképességük is.
Hátrányuk hogy a pásztázott tartomány nagyjából 200*400*5 mikron
vagy annál kisebb, tehát legkisebb nagyításuk is kb. százszoros.
Legnagyobb nagyításuk 1 millió körül van, de e helyett inkább 0,5 angströmös
legjobb felbontásuk a jellemző, amit viszonylag egyszerű mintaelőkészítés esetén
is el lehet érni.
Ilyen eszközök:
- A pásztázó alagútmikroszkóp (STM),
amelynek működése a felületet pásztázó tű és a vezető
felület atomjai között
folyó áram, az úgynevezett
alagútáram mérésén
alapul.
- Az atomerő-mikroszkópot (AFM), amelynek
működése a felületet pásztázó tű és a felület atomjai
között fellépő erő mérésén
alapul.
(A képen egy pentacén molekuláról atomerő-mikroszóppal készült kép látható.)