A képalkotás
a felületet pásztázó tű és a felület atomjai
között fellépő erő mérésén
alapul. A pásztázó tűszondás mikroszkópok (SPM) egyik típusa.
A pásztázó alagútmikroszkóp (STM) továbbfejlesztésével hozták létre.
atomerő-mikroszkóp
(AFM, Atomic Force Microscope)
A képalkotás
a felületet pásztázó tű és a felület atomjai
között fellépő erő mérésén
alapul.
A pásztázó tűszondás mikroszkópok (SPM)
egyik típusa.
A pásztázó alagútmikroszkóp (STM) továbbfejlesztésével
hozták létre.
Az AFM tűjével atomi méretekben módosítható a felület.
Működési elve az ábrán látható.
Felbontása 1000-szer jobb, mint az optikai diffrakciós határ.
Binnig, Quate és Gerber fejlesztették ki 1986-ban.
Számos előnye van a letapogató elektronmikroszkóppal szemben:
- Valódi háromdimenziós felületi profilt biztosít.
- Nem szükséges speciális kezelés a vizsgálat előtt.
- Nem szükséges erős vákuum.
- Biológiai makromolekulák vagy akár élőlények is vizsgálható vele.
Hátránya viszont:
- Csak rendkívül kicsi 150 x 150 mikrométeres terület vizsgálható vele.
- Felbontását a letapogató tű görbületi sugara behatárolja.
- Kicsi a letapogatás sebessége.