A röntgenkrisztallográfiában
használt műszer, egy kristályban az
elemi cella alakjának, és szimmetriájának
automatikus meghatározására.A kristályt a goniométerfejbe helyezik, tetszőleges irányban. Ha az elemi cella dimenzióit meghatározták, akkor azok használhatók a diffraktométer négy szögbeállításának kiszámítására, ami a specifikus (h k l) reflexió megfigyeléséhez szükséges, ahol (h k l) a Miller-indexek.
Egy számítógép ellenőrzi a beállításokat minden (h k l) megvizsgálására, és a diffrakció intenzitásának mérésére.
Az információ alapján az elektronsűrűség kiszámítható, mivel a (h k l) síkokra a reflexió intenzitása arányos egy szerkezeti faktornak nevezett függvény tényezőjének négyzetével; a szerkezeti faktor (Fhkl) pedig kapcsolatban van az elektronsűrűséggel.